當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 老化試驗箱 > HAST老化試驗箱 > DR-H210HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱
簡要描述:HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱是根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設計研發(fā)的一款設備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
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HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱產(chǎn)品簡介
該設備根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設計研發(fā)的一款設備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱說明
強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面。此試驗應力產(chǎn)生的失效機理通常與“85/85"穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗(見IEC60749-5)相同。試驗方法可以從85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗或本試驗方法中選擇。在執(zhí)行兩種試驗方法時,85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗的結(jié)果優(yōu)先于強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)。
本試驗方法應被視為破壞性試驗。
hast高壓加速老化試驗箱特點:
1. 控制器運算采用模糊算法,技術(shù)控制,精度高,使之達到最佳效果;7″TFT真彩LCD觸摸屏,比其它屏更大。
2. 控制器人機界面互動友好形式設計,操作方便,運行更可靠。
3.具有USB接口直接拷貝記錄功能,包括歷史曲線,歷史數(shù)據(jù)等,直接拷貝到計算機查看分析及存盤。
4. 可選RS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機器及計算機硬盤儲存數(shù)據(jù)。
5. 可通過局域網(wǎng)或機器直接與電腦連接監(jiān)控本機器運行情況,及遠程操控機器。
6. 超大的程序容量:50組程序功能,每組程序可編輯50步。
7. 無結(jié)露設計、定制兩套專用產(chǎn)品架可滿足有邊框和無邊框光伏組件產(chǎn)品放置、內(nèi)箱圓弧式結(jié)構(gòu)可預防水珠直接滴落在產(chǎn)品上。
8. 飽和試驗(STD)和不飽和試驗(HUM)兩種試驗模式。
9.采用真空功能,機器運轉(zhuǎn)開始時抽出雜質(zhì)空氣,從而使箱內(nèi)環(huán)境達到純凈狀態(tài)。
10. 全自動補水模式,耗水少,持續(xù)試驗時間長
11. 干燥功能:試驗完成時,開啟干燥功能,杜絕水汽付在產(chǎn)品表面,還原產(chǎn)品試驗后最真實狀態(tài)。
12.符合IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118; GB/T 2423.40-1997等規(guī)范。
13. 水路配電盤分離技術(shù),杜絕水路故障對電路系統(tǒng)造成影響。
14.可以根據(jù)產(chǎn)品狀態(tài),定制專用產(chǎn)品架(免費)
15. 采用國際品牌部件,運行噪聲低,性能*。
16.以60秒鐘的采樣計算,可保證250天的實時曲線采樣和歷史數(shù)據(jù)的存貯;可以由3秒鐘到一小時,任意設定取樣速率。
17. hast加速老化試驗箱多段安全保護裝置: 試驗時全程檢測超溫超壓保護,第一階段儀表內(nèi)部超高溫保護,第二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水防干燒保護,高壓力保護,水箱缺水報警斷電,第二階段加濕管極限溫度保護,第二階段超高壓保護,第三階段緊急泄壓保護,手動泄壓保護自動泄壓;漏電短路箱門關(guān)閉異常保護,故障報警故障原因及排除方法顯示,報警燈及蜂鳴器報警提示
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