冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
 1、型號(hào):DR-H203；
 2、溫度波動(dòng)度:±1.0℃；
 3、溫度均勻度:±2.0℃；
 4、試驗(yàn)槽溫度使用范圍:-65℃— 200℃；
 5、高溫槽溫度設(shè)定范圍:60℃— 220℃；
 6、低溫槽溫度設(shè)定范圍:－80℃-- －10℃；
 7、沖擊歸復(fù)時(shí)間:－65-- ＋200℃≤  5min；
 8、低溫槽降溫時(shí)間:RT（室溫）-- -65℃≤85min（室溫在＋10-- ＋30℃時(shí)）；  
 9、高溫槽升溫時(shí)間:RT（室溫）-- ＋150℃≤40min（室溫在＋10-- ＋30℃時(shí)）。

冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱GB/T2423.2-高溫試驗(yàn)方法：

GB/T2423.2 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》的簡(jiǎn)稱，它規(guī)定了在高溫環(huán)境下對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試的方法和要求。當(dāng)使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱測(cè)試電子元器件時(shí)，這一標(biāo)準(zhǔn)尤為重要，因?yàn)樗_保了測(cè)試的一致性和可靠性。以下是對(duì) GB/T2423.2 標(biāo)準(zhǔn)的解讀和總結(jié)，特別是關(guān)于使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱對(duì)電子元器件進(jìn)行高溫測(cè)試的相關(guān)部分：

1. 測(cè)試目的
高溫試驗(yàn)旨在評(píng)估電子元器件在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能，以驗(yàn)證其是否能夠承受預(yù)期的高溫條件，從而保證產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性。

2. 測(cè)試范圍
該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種電子元器件，包括但不限于電阻、電容、半導(dǎo)體器件、電路板和其他電子組件。

3. 測(cè)試條件
GB/T2423.2 規(guī)定了具體的高溫測(cè)試條件，包括溫度水平、持續(xù)時(shí)間、溫度變化速率等。測(cè)試溫度通常根據(jù)元器件的預(yù)期工作環(huán)境和應(yīng)用需求設(shè)定。

4. 測(cè)試設(shè)備
進(jìn)行高溫測(cè)試需要使用能夠精確控制和維持高溫的試驗(yàn)箱，即冷熱沖擊試驗(yàn)箱的高溫部分，它應(yīng)具備良好的溫度均勻性和可控性。

5. 樣品準(zhǔn)備
在測(cè)試前，元器件需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那鍧嵑皖A(yù)熱處理，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。同時(shí)，需要對(duì)元器件進(jìn)行初始性能測(cè)試，以建立性能基線。

6. 測(cè)試程序
高溫測(cè)試程序包括將元器件放入設(shè)定溫度的試驗(yàn)箱中進(jìn)行暴露，然后在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)進(jìn)行性能測(cè)試，以監(jiān)測(cè)溫度變化對(duì)元器件性能的影響。

7. 性能監(jiān)測(cè)
在高溫暴露期間，需要對(duì)元器件的關(guān)鍵性能參數(shù)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，如電導(dǎo)率、耐壓、漏電流等，以評(píng)估高溫對(duì)元器件性能的影響。

8. 恢復(fù)階段
元器件在高溫測(cè)試后需要有一個(gè)恢復(fù)階段，通常在室溫下進(jìn)行，以消除熱效應(yīng)對(duì)性能測(cè)試的影響。

9. 最終測(cè)試
在恢復(fù)階段之后，對(duì)元器件進(jìn)行最終的性能測(cè)試，以確定高溫暴露后的影響。

10. 結(jié)果評(píng)估
根據(jù)初始測(cè)試、中間測(cè)試和最終測(cè)試的結(jié)果，評(píng)估元器件的耐高溫性能。標(biāo)準(zhǔn)提供了評(píng)估方法和標(biāo)準(zhǔn)，以判斷元器件是否滿足高溫測(cè)試的要求。

11. 安全與環(huán)保
標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了測(cè)試過(guò)程中的安全操作和環(huán)保措施，包括試驗(yàn)箱的適當(dāng)通風(fēng)、使用環(huán)保型制冷劑等。

GB/T2423.1-低溫試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)適用于廣泛的電工電子產(chǎn)品，主要是為了評(píng)估這些產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能和耐受性。以下是可以利用此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行冷熱沖擊箱低溫測(cè)試的一些產(chǎn)品類型：
1、電子元器件：如電阻、電容、電感、二極管、晶體管、集成電路等，這些元件需要在低溫下保持其電氣特性。
2、電氣設(shè)備：包括各種開(kāi)關(guān)設(shè)備、控制設(shè)備、配電板、變壓器等，它們可能需要在寒冷環(huán)境中運(yùn)行。
3、汽車電子產(chǎn)品：由于汽車在冬季可能面臨極低溫，因此汽車中的電子產(chǎn)品，如傳感器、導(dǎo)航系統(tǒng)、車載娛樂(lè)系統(tǒng)等，都需要進(jìn)行低溫測(cè)試。
4、通信設(shè)備：基站、交換機(jī)、路由器、衛(wèi)星通信設(shè)備等，這些設(shè)備在戶外或低溫地區(qū)使用時(shí)，需要保證其正常工作。
5、航空航天設(shè)備：由于航空航天設(shè)備經(jīng)常在高海拔或極地環(huán)境中使用，低溫試驗(yàn)對(duì)于確保其性能至關(guān)重要。
6、軍事裝備：軍事用途的電子產(chǎn)品和通信設(shè)備，由于可能在氣候條件下使用，需要進(jìn)行低溫測(cè)試以確?？煽啃?。
7、醫(yī)療設(shè)備：某些醫(yī)療設(shè)備可能需要在低溫儲(chǔ)存條件下保持性能，如某些便攜式醫(yī)療監(jiān)測(cè)設(shè)備。
8、消費(fèi)電子產(chǎn)品：如智能手機(jī)、筆記本電腦、平板電腦等，這些產(chǎn)品在冬季或冷庫(kù)中使用時(shí)，需要保證其正常工作。
9、工業(yè)控制系統(tǒng)：包括PLC、傳感器、執(zhí)行器等，這些系統(tǒng)在工業(yè)自動(dòng)化中廣泛使用，可能需要在低溫環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行。
10、電池和能源存儲(chǔ)系統(tǒng)：電池在低溫下的性能會(huì)受到影響，因此對(duì)電池進(jìn)行低溫測(cè)試對(duì)于評(píng)估其在寒冷環(huán)境中的性能至關(guān)重要。
11、材料測(cè)試：某些材料或涂料在低溫下的性能也需要評(píng)估，以確定它們是否適合在寒冷環(huán)境中使用。
12、包裝和運(yùn)輸容器：用于低溫條件下的包裝和運(yùn)輸容器，需要測(cè)試其在低溫下的性能，以確保貨物的安全和完整。
GB/T2423.1 提供了一套詳細(xì)的測(cè)試程序，幫助制造商評(píng)估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能，確保產(chǎn)品在設(shè)計(jì)和使用過(guò)程中能夠滿足低溫環(huán)境的要求。通過(guò)這些測(cè)試，可以提高產(chǎn)品在氣候條件下的可靠性和安全性。